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本发明涉及一种测试只读存储器的电路及其测试方法，通过只读存储器控制信号端（２），读只读存储器信号的控制电路（３），只读存储器数据运算电路（４）和输出电路（５）对只读存储器（１）的测试以及对测试结果的数据输出的判断，以检验只读存储器（１）内固...该专利属于上海华园微电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华园微电子技术有限公司授权不得商用。
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