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一种测试装置，是测试具通用序列埠界面的周边装置，其特征在于包括有：　　　　一微处理器；　　　　一记忆体，内预设有一韧体程序，且该记忆体连接至该微处理器；及　　　　一控制晶片，具通用序列埠界面控制，连接至该微处理器，并设有复数个连接埠，用以连...
该专利属于威盛电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过威盛电子股份有限公司授权不得商用。

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