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本发明公开了一种超薄金属涂层厚度和电导率快速检测方法及系统，所述方法包括以下步骤：S1，将检测线圈设置在多个预定位置；S2，在检测线圈中分别加入多个频率的正弦电流，得到多个和预设位置对应的阻抗值；S3，通过第一预设公式对阻抗值进行转化得到归...
该专利属于北京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京航空航天大学授权不得商用。

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