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一种半导体芯片测试探针用钯合金皇冠顶柱的成型装置制造方法及图纸
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下载一种半导体芯片测试探针用钯合金皇冠顶柱的成型装置的技术资料
文档序号:28651490
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本发明涉及成型装置技术领域,尤其是一种半导体芯片测试探针用钯合金皇冠顶柱的成型装置,现提出如下方案,其包括工作台,工作台上固定连接有固定架,固定架的底侧固定连接有导向装置,导向装置的底部固定连接有移动板,移动板的底面固定连接有两个第一支撑板...
该专利属于浙江金连接科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江金连接科技有限公司授权不得商用。
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