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一种特征处理方法及装置、存储介质及程序产品制造方法及图纸
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文档序号:28635519
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一种特征处理方法及装置、存储介质及程序产品,该方法包括:利用多个特征提取模型分别对目标图像进行特征提取,得到所述目标图像的多个特征向量(S102),然后,将所述多个特征向量进行拼接,得到所述目标图像的拼接特征向量(S104),进而,对所述拼...
该专利属于北京比特大陆科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京比特大陆科技有限公司授权不得商用。
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