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一种多紧缩场测量系统和方法技术方案
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文档序号:28633827
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本申请公开了一种多紧缩场测量系统,包括微波暗室和位于微波暗室内的第一反射面、第二反射面、第一直线导轨、第二直线导轨、第一反射面方位转轴、第二反射面方位转轴;第一反射面方位转轴驱动第一反射面转动,并与第一直线导轨连接,使第一反射面沿第一直线导...
该专利属于中国信息通信研究院所有,仅供学习研究参考,未经过中国信息通信研究院授权不得商用。
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