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本申请公开一种大尺度特性参数测量方法、装置、节点和存储介质，该方法包括：获取指示信息，其中，指示信息包括QCL关联信息和第一时间窗信息，根据指示信息测量第一参考信号的大尺度特性参数。上述过程可以根据获取的指示信息，实现在指示信息包含的第一时...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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