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有机半导体器件原位电学性能智能监测设备制造技术
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文档序号:28628646
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本发明涉及一种有机半导体器件原位电学性能智能监测设备,包括:真空腔体,提供器件制备及原位监测的真空环境;蒸发源,提供器件制备的原材料;检测组件,包括用于实现原位电学检测的探针、设置在真空腔体外的探针座和带动探针座移动的探针移动台,探针座与真...
该专利属于苏州大学所有,仅供学习研究参考,未经过苏州大学授权不得商用。
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