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一种平行坐标图的密度失真与重影簇的反走样方法技术
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文档序号:28623115
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本发明涉及一种平行坐标图的密度失真与重影簇的反走样方法,属于数据可视化应用技术领域。该方法包括以下步骤:S1:在像素屏幕空间来研究不同的视觉结构,将数据值映射为像素坐标,并定义一维轴直方图和二维轴对直方图;S2:计算像素空间形式化过度绘图的...
该专利属于重庆邮电大学所有,仅供学习研究参考,未经过重庆邮电大学授权不得商用。
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