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本发明属于半导体和集成电路技术领域，具体为一种应用于组合逻辑电路的软错误加固方法。本发明包括4个过程：读取，标记，分组和加固；读取过程提取电路的组成元素和元素间的连接关系；标记过程对待加固逻辑门进行分类标记，待加固逻辑门的数量和位置可以根据...
该专利属于复旦大学所有，仅供学习研究参考，未经过复旦大学授权不得商用。

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