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本发明提供了一种继承性大变形光纤测试结构及测试方法，包括外接测试设备的多根测试光纤，设置两个固结区将测试光纤直接固定在检测对象上，或者先固定在测试光线载体上，测试光线载体再固定在检测对象上；所有测试光纤在检测区域内长度不同L...
该专利属于叶晓明;重庆大恒工程设计有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过叶晓明;重庆大恒工程设计有限公司授权不得商用。

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