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本发明涉及测量装置、扫描探针显微镜和对测量样品进行测试的方法。用于扫描探针显微镜的测量装置具有：样品容纳部，其设置成用于容纳要测试的测量样品；测量探针，其设置在探针支架上并且具有探针尖，该测量样品能够利用所述探针尖进行测量；移位装置，其设置...
该专利属于布鲁克纳米有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过布鲁克纳米有限公司授权不得商用。

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