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公开了一种方法、系统以及程序产品，用于对集成电路以统计方式建立模型，其提供了关于模型参数之间部分相关性信息。本发明为将要被建立模型的数据确定一个方差－协方差矩阵；对该方差－协方差矩阵进行主要分量分析；并且对每一个主要分量创建一个具有独立分布...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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