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本发明提供了一种半导体激光器耐回返光能力的光路测试系统，涉及半导体激光技术领域；该系统包括：待测试的半导体激光器、光功率计和光纤合束分束模块；所述光纤合束分束模块包括具有多个输入分支的一端及多个输出分支的另一端；所述激光器和所述光功率计分别...
该专利属于深圳市星汉激光科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市星汉激光科技股份有限公司授权不得商用。

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