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本发明公开了一种基于荧光光谱检测荧光轮粉体衰变的方法，通过测量相同激发光强照射下的同一荧光轮上不同荧光粉区域的荧光光谱以及不同激发光强照射下的同一荧光轮上相同荧光粉区域的荧光光谱，分析荧光粉的荧光光强随激发光强的强度变化，得到影响荧光粉色彩...
该专利属于四川长虹电器股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过四川长虹电器股份有限公司授权不得商用。

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