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一种用于测试被测设备的测量系统包括信号生成和/或分析设备、多个天线、多个反射器和被测设备的测试位置。天线以信号传输的方式与信号生成和/或分析设备连接。天线中的每个天线被配置成传输和/或接收电磁信号,使得波束路径被提供在相应的天线和测试位置之...该专利属于罗德施瓦兹两合股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过罗德施瓦兹两合股份有限公司授权不得商用。
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一种用于测试被测设备的测量系统包括信号生成和/或分析设备、多个天线、多个反射器和被测设备的测试位置。天线以信号传输的方式与信号生成和/或分析设备连接。天线中的每个天线被配置成传输和/或接收电磁信号,使得波束路径被提供在相应的天线和测试位置之...