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本发明公开了一种用于对复合片材(180)进行重量测量的测量设备(100)，该测量设备包括其上具有第二材料的片材材料(180a)，该第二材料作为涂层(180b)和/或作为其中的嵌入粒子(180c)。该设备包括x射线传感器(110)和红外(IR...
该专利属于霍尼韦尔国际公司所有，仅供学习研究参考，未经过霍尼韦尔国际公司授权不得商用。

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