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本发明涉及检测分析技术领域，且公开了一种光电一体化检测卡分析设备，包括放置盒，放置盒的上端设为开口结构，放置盒的上端一侧铰接有盖板，盖板的下端左右对称固定连接有两个卡板，两个卡板之间通过卡紧机构固定卡接有同一个安装板，安装板的下端均布有多个...
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