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本发明公开了一种单元测试系统和方法，系统包括：被测单元（１０５）、缓冲单元（１０２）、通用驱动单元（１０１）、测试控制单元（１０６）、信息提取单元（１０３）。采用本发明提出的单元测试系统和方法能够有效提高单元测试的效率和质量，减少人力成本，...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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