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本发明公开了一种用于对存储器芯片进行测试的系统及方法，包括：包括：上位机，通过数字通道与测试平台系统相连接，用于根据测试需求产生与所述测试需求对应的波形激励样式和波形激励样式的调用顺序命令；用于获取被测存储器芯片输出的波形数据，将所述被测存...该专利属于中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国电力科学研究院有限公司;国网江苏省电力有限公司电力科学研究院;国家电网有限公司授权不得商用。