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本申请公开了一种测试装置的性能测试方法、系统、设备及介质，其中，测试装置的性能测试方法包括：提供一加热模块，所述加热模块的输入功率可调；提供一测试装置，用于对所述加热模块维持热平衡；预设加热模块的输入功率、测试时间、初始温度及温度阈值；将所...
该专利属于苏州通富超威半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州通富超威半导体有限公司授权不得商用。

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