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本发明提出一种X射线衍射全谱多峰拟合模式的多晶材料残余应力测量方法，利用材料的一张X射线衍射全谱谱线，采用多峰拟合模式，考虑了多晶体晶粒取向的基础上，获得多晶体材料平面应变，在此基础上结合多晶体材料应力应变关系，最终计算出多晶体材料残余应力...
该专利属于宁波经略海洋科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过宁波经略海洋科技有限公司授权不得商用。

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