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本申请公开一种提高集成电路测试覆盖率的方法及装置，涉及集成电路设计领域。该方法包括：获取集成电路中的不可控输入寄存器，包括，根据集成电路中任一可观测的第一输出寄存器，确定以第一输出寄存器为输出的第一输入寄存器中的第一不可控输入寄存器；根据第...
该专利属于重庆百瑞互联电子技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过重庆百瑞互联电子技术有限公司授权不得商用。

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