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本发明公开了一种芯片测试方法及装置。所述芯片测试方法，包括：通过芯片自带的处理功能对待测样本进行处理，得到处理后的结果样本；将所述芯片中预设的预期结果样本和所述结果样本进行对比；根据对比的结果，分析出所述处理功能的测试结果。本发明在没有处理...
该专利属于无锡灵汐类脑科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过无锡灵汐类脑科技有限公司授权不得商用。

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