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本申请涉及检测模型，公开了一种电路板缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：获取第一图像，所述第一图像中的电路板上有缺陷；将所述第一图像输入训练好的生成网络中，得到第二图像，所述第二图像中的电路板上无缺陷；根据所述第一图像中每个...
该专利属于平安科技（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过平安科技（深圳）有限公司授权不得商用。

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