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本申请公开一种基于MCU的事件发生时刻测量范围的扩展方法及装置，其扩展方法包括：当捕获到事件发生时，将当前MCU的定时器的计数值作为事件发生时刻的低字，并根据MCU的定时器是否溢出推算得到事件发生时刻的高字，事件发生时刻的高字和事件发生时刻...
该专利属于深圳市禾望电气股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市禾望电气股份有限公司授权不得商用。

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