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用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具制造技术
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下载用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具的技术资料
文档序号:27993850
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本实用新型揭示了用于芯片老化测试设备的装卸料浮动辅助治具,包括具备升降位移的载座、及位于载座底部的用于与弹性卡合部相配合的配合座,载座上设有镂空部,配合座上设有导向通道,镂空部与导向通道形成供芯片穿过的芯片装卸料通道,配合座具备相对载座的垂...
该专利属于无锡挈领科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过无锡挈领科技有限公司授权不得商用。
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