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本发明提供了一种自适应分区多次预测方法及装置，该方法包括：获取当前预测单元的样本特征，该当前预测单元的子块或像素的样本特征不完全相同；基于该样本特征确定是否对该当前预测单元的子块或像素进行分区多次预测处理，若确定结果为是，则对子块或像素进行...
该专利属于浙江大华技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江大华技术股份有限公司授权不得商用。

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