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本发明提供的一种绝缘体上硅结构的方法包括以下步骤:提供一键合结构,键合结构包括第一衬底、第二衬底和绝缘埋层,绝缘埋层位于第一衬底和第二衬底之间;从键合结构上剥离去除部分厚度的第一衬底,以得到第一薄膜;在第一温度下第一次刻蚀第一薄膜,以去除第...该专利属于上海新昇半导体科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所所有,仅供学习研究参考,未经过上海新昇半导体科技有限公司;中国科学院上海微系统与信息技术研究所授权不得商用。