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本发明公开了基于错位采样的图像插值方法、系统及存储介质，方法包括以下步骤：对原始图像采用错位下采样；将下采样图像中每个像素恢复到原始图像的采样位置；对未知像素采用双线性插值方法或双三次插值方法重构图像；所述双线性插值方法分为两轮进行插值，第...
该专利属于暨南大学所有，仅供学习研究参考，未经过暨南大学授权不得商用。

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