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本发明涉及一种二维转台折转光学组件的调试方法，以解决现有的二维转台折转光学组件在转台侧卧状态下调试存在占用空间较大、调试工作量大，且调试精度不高的技术问题。本发明方法包括：搭建调试系统，在转台俯仰轴的俯仰法兰上安装俯仰轴标定工装，俯仰轴标定...
该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。

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