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本实用新型公开了一种压力芯片全自动测试分档系统，涉及传感器芯片加工检测技术领域，包括上料机构、重力滑轨、测试分选机构、自动收料机构和控制系统；还包括一个带有斜坡的支撑架，所述上料机构设置于所述支撑架顶部的水平工作台上，所述重力滑轨、所述测试...
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