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本实用新型属于涂层材料分析仪器技术领域，尤其涉及一种航天器热控涂层测量装置，其包括所述样品光入口导入的样品光通过被测样品表面的热控涂层漫反射至积分球内的接收器以形成被测样品的反射光谱，本实用新型解决了现有技术存在航天器热控涂层的实验室测量方...
该专利属于天津市拓普仪器有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天津市拓普仪器有限公司授权不得商用。

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