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本公开提供了一种质子注量率测量装置及系统，其中该装置包括吸收结构和补偿结构，吸收结构用于吸收入射的质子束流；补偿结构沿质子束流的入射方向设置于吸收结构之前，在测量质子束流注量率过程中为吸收结构提供二次电子发射补偿；其中，吸收结构和补偿结构采...
该专利属于中国原子能科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国原子能科学研究院授权不得商用。

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