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一种半导体器件模型参数的优化方法，包括以下步骤：1）获取模型参数表；2）获取测试数据和模型参数表仿真数据的误差率；依次获取模型参数表中的模型参数，并利用每一个模型每一个参数表的参数的上限调整数值和下限调整数值进行仿真得到每一个参数表的参数的...
该专利属于成都华大九天科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都华大九天科技有限公司授权不得商用。

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