温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型公开了一种均匀光源的辐射特性测试装置,该设备兼备面均匀性测试功能以及角均匀性测试功能,具有结构简单,测量速度快、通用性强的优点,该测试装置包括支架、升降机构、轻质横杆,多个光电探测器组件以及信号处理及测量控制单元;升降机构与支架连...该专利属于中国科学院西安光学精密机械研究所所有,仅供学习研究参考,未经过中国科学院西安光学精密机械研究所授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型公开了一种均匀光源的辐射特性测试装置,该设备兼备面均匀性测试功能以及角均匀性测试功能,具有结构简单,测量速度快、通用性强的优点,该测试装置包括支架、升降机构、轻质横杆,多个光电探测器组件以及信号处理及测量控制单元;升降机构与支架连...