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用于设计技术系统的方法，所述技术系统通过包括状态量和取决于所述状态量的诊断量的参数来描述特征：　　　　－在所述方法中，通过方程组来描述所述技术系统，其中所述状态量是所述方程组的解；　　　　－在所述方法中，分析包括第一被测量的测量场，其中在所...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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