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本发明公开了一种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法。这种透明玻璃镀膜后缺陷检测的方法实现了使得在检测过程中不再需要进行镀膜层的去除处理，减少了不必要的步骤，节约了实施该方法的时间，同时消除了测试数据的固有误差，能够真实反映镀膜工序镀膜层的质量，便...
该专利属于俞华芬所有，仅供学习研究参考，未经过俞华芬授权不得商用。

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