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本发明提供一种芯片调试系统及芯片调试方法。其中，芯片调试系统用于实现目标芯片端和调试用户端通信连接；芯片调试系统包括：云端调试服务模块和调试代理模块；调试代理模块通过调试协议与目标芯片通信连接，云端调试服务模块与调试用户端云连接，云端调试服...
该专利属于海光信息技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海光信息技术股份有限公司授权不得商用。

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