专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
韩国标准科学研究院
>
正交入射椭圆仪以及使用其测量样本的光学性质的方法技术
>技术资料下载
下载正交入射椭圆仪以及使用其测量样本的光学性质的方法的技术资料
文档序号:27586447
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明涉及正交入射椭圆仪以及通过使用该正交入射椭圆仪来测量样本的光学性质的方法。本发明的目的是提供:正交入射椭圆仪,其中,使用波长不相关线性偏振器代替波长相关补偿器,使得简化了设备校准过程,同时可以容易地实现测量波长范围的扩展;以及通过使用...
该专利属于韩国标准科学研究院所有,仅供学习研究参考,未经过韩国标准科学研究院授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。