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本申请涉及X射线荧光分析的领域，尤其是涉及一种用于痕量元素测定的单波长X射线装置及设计方法。一种用于痕量元素测定的单波长X射线装置，包括箱体、位于箱体内的X射线发生元件、X射线衍射聚焦元件，所述X射线衍射聚焦元件包括双曲面弯晶，所述箱体的上...
该专利属于钢研纳克检测技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过钢研纳克检测技术股份有限公司授权不得商用。

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