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本发明提供一种多通道并行式温度测量装置，包括：通过双ADC交叉采样测量方法，引入两个ADC同时对标准电阻和热敏电阻两端的电压进行采集，以消除分时采集带来的误差，但是引入两个ADC同时也会引入由两个ADC性能不同带来的误差，因此采用交叉采样法...
该专利属于武汉智能装备工业技术研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉智能装备工业技术研究院有限公司授权不得商用。

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