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本发明公开了一种基于空间分布的多探头天线测试设备及方法，该测试设备包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶...
该专利属于泰姆瑞技术(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰姆瑞技术(深圳)有限公司授权不得商用。

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