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本发明实施例提供一种带隙基准源测量装置及方法，其中测量装置包括：测量电容、控制开关、比较器、计数器和计算模块；控制开关与测量电容并联连接，且控制开关在测量电容充电过程中处于常开状态；测量电容的第一端连接比较器的同向输入端，测量电容的第二端接...该专利属于北京芯可鉴科技有限公司国网思极紫光（青岛）微电子科技有限公司北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京芯可鉴科技有限公司国网思极紫光（青岛）微电子科技有限公司北京大学授权不得商用。