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描述了一种用于多向扫描探测头(22)的表面光洁度触针(50；190)。该触针包括具有纵向轴线(L)的长形触针轴(52；120；140)以及从长形轴(52；120；140)突出的用于接触待测量的表面(70，72)的一个或多个接触元件(56；1...
该专利属于瑞尼斯豪公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞尼斯豪公司授权不得商用。

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