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本公开实施例提供了一种缺陷检测、修复方法、装置以及存储介质，所述缺陷检测方法包括：获取当前产品的图像作为待检测图像，对所述待检测图像进行特征分析，得到包含所述待检测图像中缺陷对象的特征图集；将所述特征图集输入预先训练完成的卷积神经网络，通过...
该专利属于京东方科技集团股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过京东方科技集团股份有限公司授权不得商用。

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