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硬件测试方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸
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文档序号:26969993
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本发明公开了一种硬件测试方法、装置、电子设备和存储介质,其中,该方法包括:根据获取的入参场景确定待测硬件对应应用程序接口API的API种类和API调用顺序;通过所述API种类和所述API调用顺序在预设测试表单中依次调用接口测试用例测试所述待...
该专利属于龙尚科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过龙尚科技(上海)有限公司授权不得商用。
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