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本申请涉及一种光子计数探测器去极化的方法、系统和计算机设备，其中，该光子计数探测器去极化的方法包括：通过根据晶体生长过程中产生的缺陷能级，确定光照设备的光照波长范围，根据所述光照波长范围，控制所述光照设备照射所述光子计数探测器，解决了相关技...
该专利属于上海联影医疗科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海联影医疗科技股份有限公司授权不得商用。

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