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本发明公开了一种基于投影寻踪及整数规划的薄膜材料振动分析方法，包括以下步骤：S1、在重要特征点位布置振动传感器，获取描述振动的参数矩阵，首先对需要检测的振动参数进行分析，确定所需参数，当获得多个测量点的振动数据信息后，可得到反映薄膜的振动参...
该专利属于宝鸡文理学院所有，仅供学习研究参考，未经过宝鸡文理学院授权不得商用。

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