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本发明公开了一种缺陷检测系统以及方法，本发明技术方案将检测光线从待测结构件的侧壁导入待测结构件的内部，通过全内反射的原理来检测待测结构件表面和内部的缺陷，避免了任何表面光线反射造成的信噪比降低的问题，而且相比于传统的光学检测方法，排除了相机...
该专利属于杭州元色科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州元色科技有限公司授权不得商用。

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